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Publicado el 06/12/2021

IEEE AR EDS/SSCS - Webinario "Desafíos de confiabilidad en dispositivos MOS y CI de RF"
Sebastián Pazos - 11 de diciembre de 2021

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El Capítulo Conjunto Argentino de las Sociedades IEEE Electron Devices (EDS) y Solid State Circuits (SSCS) invita al webinario "Desafíos de confiabilidad en dispositivos MOS y circuitos integrados de radiofrecuencia" en el que disertará el Dr. en Ingeniería Sebastián Pazos, y que se  realizará el sábado 11 de diciembre de 2021 a las 14:00 AR (GMT-3).

Más información e inscripción previa:   https://events.vtools.ieee.org/m/291818     
Los datos de acceso a la sesión Meet se enviarán oportunamente a los inscriptos.

Resumen
El paradigma de la miniaturización se ha encontrado con limitaciones, tanto económicas como tecnológicas, que atentan contra la mejora sostenida del rendimiento de los circuitos electrónicos. Garantizar la confiabilidad tanto a nivel físico de la estructura de un transistor como también a nivel de su aplicación en circuitos elaborados, es un eslabón fundamental en el proceso de maduración de las tecnologías de integración.
En este webinario se discutirá sobre la confiabilidad de dispositivos y circuitos de estado sólido, puntualmente para aplicaciones de radiofrecuencia, a través de dos ejes centrales del presente y futuro de la tecnología electrónica.
Disertante: Sebastián Pazos
Ingeniero en Electrónica (2017) y Doctor en Ingeniería por la UTN BA (2021). Becario CONICET en el Laboratorio de Nanoelectrónica de la UTN BA. Actualmente es Investigador Postdoctoral en King Abdullah University of Science and Technology (KAUST).

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